近年来，中国科学院院士、中科院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心纳米物理与器件重点实验室研究员高鸿钧带领团队在石墨烯及类石墨烯二维原子晶体材料的制备、物性调控及应用等方面开展了研究和探索，取得了一系列研究成果。在早期的研究工作中，研究人员发现，在过渡金属表面外延生长的石墨烯具有大面积、高质量、连续、层数可控等优点；进一步发展了基于该体系的异质元素插层技术，运用该技术可有效避免复杂的石墨烯转移过程，使大面积、高品质石墨烯单晶可以无损地置于异质元素插层基底之上。随后，研究人员揭示了石墨烯无损插层的普适机制；利用该插层技术，实现了空气中稳定存在的石墨烯/硅烯异质结的构建和对石墨烯电子结构的调控。

 

　　在上述研究基础上，该研究团队的博士后郭辉、博士生王雪艳和副主任工程师黄立等经过持续努力，实现了金属表面外延高质量石墨烯的二氧化硅绝缘插层，并原位构筑了石墨烯电子学器件。研究人员在Ru(0001)表面实现了厘米尺寸、单晶石墨烯的外延生长；在此基础上，发展了分步插层技术，通过在同一样品上插入硅和氧两种元素，在石墨烯和Ru基底的界面处实现了二氧化硅薄膜的生长；随着硅、氧插层量的增加，界面处二氧化硅逐渐变厚，其结构由晶态转变为非晶态；当二氧化硅插层薄膜到达一定厚度时，石墨烯与金属基底之间绝缘；利用这一二氧化硅插层基底上的石墨烯材料，可实现原位非转移的外延石墨烯器件的制备。实验上首先通过截面扫描透射电子显微镜的研究，证明了薄层晶态二氧化硅的双层结构，进一步结合扫描隧道显微镜及拉曼光谱的研究，表明二氧化硅插层之后石墨烯仍保持大面积连续及高质量性质；随着硅、氧插层量的增加，扫描透射电镜图像显示界面处二氧化硅的厚度可达1.8纳米；垂直方向输运测试及理论计算表明，该厚层非晶态二氧化硅（1.8纳米）插层较大限制了电子从石墨烯向金属Ru基底的输运过程，实现了石墨烯与金属Ru基底之间的电学近绝缘；基于1.8纳米二氧化硅插层的样品，原位制备出石墨烯的电子学器件，并且通过低温、强磁场下的输运测试，观测到了外延石墨烯的整数量子霍尔效应、弱反局域化等现象。这些现象都来源于石墨烯二维电子气的本征性质，进一步证明了1.8纳米非晶态二氧化硅的插层并未破坏石墨烯大面积、高质量的特性，而且有效隔绝了石墨烯与金属基底之间的耦合。

 

　　该研究提供了一种与硅基技术融合的、制备大面积、高质量石墨烯单晶的新方法，为石墨烯材料及其器件的应用研究提供了基础。