用于管芯上温度测量的装置和方法

作者: E·罗滕,J·赫尔默丁,E·迪斯蒂芬诺, CNPIM 2008年03月12日

发明人:E·罗滕,J·赫尔默丁,E·迪斯蒂芬诺,
专利权人:英特尔公司
公开日:2008-03-12
公开号:CN101142541B
专利类别:发明公开
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摘要:一种利用定位在处理器核的热点上的传感器测量和管理半导体管 芯上处理器核的热操作的方法。根据传感器检测的温度确定测量的 温度读数。指示温度信息的中断信号和软件可读寄存器向处理器提 供关于热环境的反馈。根据测量的温度读数,中断信号指导处理器 修改操作。

1.一种系统,包括: 处理器,在操作期间具有热点,所述热点是其温度高于所述处理 器中与所述热点邻接的区域的局部区域; 用于检测所述热点内温度的部件; 用于根据所述用于检测的部件所检测的温度生成测量的温度读数 的部件; 用于根据所述测量的温度读数指导所述处理器修改处理器操作的 部件; 半导体管芯,包括所述处理器、所述用于检测的部件、所述用于 生成的部件和所述用于指导的部件;以及 用于热管理的部件,在所述半导体管芯外部,并对所述用于指导 所述处理器的部件的输出作出响应。
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